簡(jiǎn)要描述：電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)Top-Smart 1100
開(kāi)放式的硬件平臺(tái)，可根據(jù)客戶需求增減各種測(cè)試設(shè)備 (含GPIB,RS-232,USB等接口的設(shè)備)
　　? 開(kāi)放式的軟件平臺(tái)，可根據(jù)客戶測(cè)試要求擴(kuò)充各種新測(cè)試項(xiàng)目和功能
　　? 支持同時(shí)多路條形碼預(yù)掃描功能，并且支持邊測(cè)試邊掃條形碼功能，提升整體測(cè)試速度

1、直流輸出電壓

DC output voltage

22、輸入電壓緩升/降測(cè)試

Input voltage ramp

2、直流輸出電流

DC output current

23、輸入頻率緩升/降測(cè)試

Input freq. ramp

3、峰對(duì)峰值雜訊

Peak-Peak noise

24、輸出電壓順序

Tracking

4、暫態(tài)反應(yīng)時(shí)間

Transient response time

25、短路測(cè)試

Short circuit test

5、暫態(tài)電壓

Transient spike

26、短路電流測(cè)試

Short circuit current

6、電壓穩(wěn)定度

Voltage regulation

27、過(guò)電壓保護(hù)

OV protection

7、電流穩(wěn)定度

Current regulation

28、低電壓保護(hù)

UV protection

8、開(kāi)機(jī)時(shí)序

Turn ON time

29、過(guò)載保護(hù)

OL protection

9、上升時(shí)間

Rise time

30、過(guò)功率保護(hù)

OP protection

10、下降時(shí)間

Fall time

31、測(cè)試中調(diào)整

In-test adjustment

11、開(kāi)機(jī)時(shí)間

Hold-up time

32、輸入斷電測(cè)試

AC cycle drop out

12、浪涌電流測(cè)試

Inrush current test

33、輸入電源失真模疑

PLD simulation

13、電源備妥信號(hào)（PG）

Power good signal

34、GPIB讀/寫(xiě)

GPIB read/write

14、電源失效信號(hào)（PF）

Power fail signal

35、232讀/寫(xiě)

232 read/write

15、開(kāi)啟電源供應(yīng)器信號(hào)

P/S ON signal

36、USB讀/寫(xiě)

USB read/write

16、輸出上升波形

Power up sequence

37、TTL信號(hào)控制

TTL signal control

17、輸出下降波形

Power off sequence

38、繼電器控制

Relay control

18、效率

Effciency

39、條碼讀取

Bar code scan

19、輸入有效值電流

Input RMS current

40、動(dòng)態(tài)測(cè)試

Dynamic test

20、輸入功率

Input power

41、定電壓模式下的電流測(cè)量

DC Current under C.V.Mode

21、輸入功率因數(shù)

Input power factor

42、定功率模式下的特性測(cè)量

DC : specification under C.P.Mode